大厚度比試件的無損檢測透照技術

射線透照常規工藝允許試件有一定的厚度差異，在射線底片上所能顯示的厚度範圍，就稱為RT厚度容度。但若試件厚度差過大，就會透照質量失效，要解決此問題，必須采用一些特殊工藝或技術措施。

試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量，試件厚度比可定義為一次透照範圍內試件的最大厚度與最小厚度之比，用Ks表示。當Ks大於1.4時，可以認為屬於大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括餘高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件，以及一些形狀較複雜的機械零件。

大厚度比對射線照相質量的不利影響主要表現在兩個方麵：一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大，而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大，產生邊蝕效應。

對大厚度比試件透照的特殊技術措施包括適當提高管電壓技術、雙膠片技術和補償技術。

【適當提高管電壓技術】

適當提高管電壓是透照大厚度比試件最常采用的，也是最簡便的方法。

隨著管電壓的提高，底片上不同部位的黑度差將減小，這樣，在規定的黑度範圍內，可以容許更大的試件厚度變化範圍，即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外，對厚度變化的試件透照，提高管電壓可以減小散射比，降低邊蝕效應。但是射線能量提高後，衰減係數μ減小，從未會導致對比度減小，這一點對射線照相靈敏度不利。因此，管電壓不能任意提高，究竟管電壓提高多少比較合適，這是確定具體透照工藝需要研究的問題。

【雙膠片技術】

對厚度差較大的工件，可以采用在一隻暗盒裏放兩張膠片同時透照的雙膠片技術。

暗盒裏放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片（異速雙片法），其中感光度較大的膠片適用於透照厚度較大部位的觀察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片（同速雙片），管片方法是對黑度較小部位，將雙片重疊觀察評定，對黑度較大部位，用單片觀察評定。

【補償技術】

補償技術時指用補償塊、補償粉、補償泥、補償液等填補工作澆薄部分，使透照厚度差減小的方法，焊縫照相可使用厚度補償塊，形狀不規則的小零件照相可使用流質吸收劑（醋酸鉛加硝酸鉛溶液），或金屬粉末（鐵粉或鉛粉）作為厚度補償物。